近日，我院半导体薄膜与器件研究团队参编的《色选用近红外InGaAs焦平面探测器参数测试方法》团体标准（编号：T/WXIOT 004-2025）正式发布。该标准填补了线列、面阵色选用近红外InGaAs焦平面探测器关键参数测试的行业空白，为产品研发、生产及应用提供了统一技术规范。
团队全程深度参与标准的立项、起草、修改和技术审查等全链条环节。本次标准参编单位涵盖无锡中科德芯感知科技有限公司、中国科学院上海技术物理研究所、江苏理工学院等8家高新技术企业与高校院所，多方协同确保标准科学性与适用性。
该标准的发布，彰显了团队在相关领域的专业实力，体现我院在行业标准化建设中的积极作为。团队将持续投身标准制定工作，为推动光电材料与器件产业高质量发展贡献力量。
（图/文：吴卫华 审核：陈雪平 编辑：李姗）